Импедансный дефектоскоп ДАМИ-С

Универсальный дефектоскоп композитных материалов ДАМИ-С находит применение как устройство для обнаружения дефектов. Обследование возможно путем использования трех различных методик — импедансной, вихретоковой, ударной. Контролю можно подвергать композиты и материалы, имеющие сотовую структуру, металлы и сплавы. Прибор также позволяет обнаружить коррозийные явления, контролировать состояние поверхности изделия и подповерхностного слоя.

Благодаря уникальному функционалу дефектоскопа появляется возможность автоматизации работы  — преобразователь в автоматическом режиме настраивается на исследуемый образец, учитывая плотность и структуру анализируемого материала.

Прибор широко применяется в разных сферах промышленности:

• автомобиле-, авиа- и судостроении;
• космической.

Тестированию могут подвергаться:

• слоистые неметаллы (углепластики, стеклопластиков, текстолиты);
• материалы, имеющие сотовую структуру, в т;ч; с обшивкой из металлов и неметаллов. Соты могут быть сделаны из любых материалов, в т;ч; полиамидной бумаги;
• конструкции с разными заполнителями;
• многослойные клееные конструкции (количество слоев от 2 до 4);
• грубые сотовые материалы с изменяющейся толщиной;
• неферромагнитные материалы и сделанные из них изделия.

Преимущества:

• сухой точечный контакт избавляет от необходимости использовать контактную жидкость;
• реализация различных методов обследования. Импедансный позволяет обнаружить непроклей или расслоение, отклонения от плотности .Также с помощью прибора строятся С-изображения выявленных дефектов. С помощью вихретокового выявляются коррозийные явления поверхности листовых неферромагнитных материалов и строятся изображения зон с явлениями коррозии. Ударный позволяет быстро проконтролировать значительные площади и построить интерполированные изображения обследуемых областей;
• автоматизация режима настройки, выполняемой по двум параметрам: амплитуде сигнала и его фазе, что упрощает подготовку устройства к работе;
• наличие сканера, определяющего положение ПЭП;
• возможность отслеживать траекторию передвижения преобразователя;
• возможность одновременно работать с тремя разными настройками, т.е. параллельно выполнять тестирование трех слоев;